Ústav materiálov a mechaniky strojov
Slovenská akadémia vied
Kontakty
EN
Toggle navigation
Nové materiály
Ľahké materiály
Al kompozit s bórovými vláknami
Extrudovaný Al/SiC kompozit
Metal foam in space application
Carbon fiber reinforced magnesium composite
Vysokoteplotné materiály
Kompozity so silicidovou matricou
Kompozity s NiAl matricou
Pokročilé technológie
Výroba kompozitiov s kovovou matricou
Infiltrácia roztaveného kovu pod tlakom
Difúzne spájanie vo vákuu
Techniky povlakovania
Povlakovanie vlákien
Fyzikálna depozícia z pár
Základný výskum
Doktorandské štúdium
Služby
Hodnotenie štruktúry materiálov
Chemická analýza zloženia vrátane analýzy obsahu plynov
Fázová analýza
Mikroštruktúrna analýza
Analýza defektov (vmestky, prímesy, póry, trhliny)
Deštruktívne a nedeštruktívne skúšanie materiálov
Meranie fyzikálnych vlastností
Tepelná analýza
Odlievanie a tepelné spracovanie
Simulácie a modelovanie
Napäťová simulácia
Simulation of interaction trajectories between
incident electron beam and specimen
Patenty
Výskumné údaje
Projekty
Publikácie
Vedecké časopisy
Ústav
Ponuky práce
Poslanie a vízia
Úspešné príbehy
Ďalšie generácie
História
FEI Themis ETEM - FEG Scanning Transmission Electron Microscope
Miesto:
Hlavné pracovisko
, Bratislava
Main features
operates in TEM and STEM mode
atomic resolution combined with high analytical capabilities
multi-signal detection from up to four signal simultaneously to accelerate scanning transmission electron microscopy (S/TEM) imaging
Cs Probe Correctorfor sub-A resolution in STEM mode
super X: High-sensitivity, windowless EDX detector system based on SDD technology
electron energy loss spectroscopy (EELS)
field-free imaging in Lorentz mode with 2nm resolution for magnetic property studies
micro-tomography
cryo-electron microscopy
Basic technical parameters
accelerating voltage (X-FEG) – (80, 200, 300) kV
resolution: 200 kV performance - TEM information limit ≤ 0.8 Å; HR-STEM resolution ≤ 0.8;
EDX: output count rate up to 200 Kcps120 mm
2
combined detector area, detection of all elements down to boron
holders: single tilt holder
double tilt holder
cryo holder
detectors: TEM - CMOS based FEI CETA camera; STEM- HAADF, BF, DF2, DF4; EDX – Super X windowless EDX; EELS – Enfiniumspektrometer
Kontakt
Štefan Nagy